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Testbericht: IC-Tester   (Bauteil-Tester)

Mit Video

√úber 1300 Bauteile bis 24 Pins, darunter die g√§ngigsten ICs sowie Operationsverst√§rker, Optokoppler, Treiber, Transistoren und Zenerdioden soll der IC-Tester aus Fernost laut Produktbeschreibung pr√ľfen k√∂nnen. Afug-Info.de hat den Tester n√§her unter die Lupe genommen.

Bild: IC-Tester
Das Testgerät.

Bild: IC-Tester
So ist der IC-Tester aufgebaut.

Verarbeitung

Die Verarbeitung ist insgesamt mangelhaft.

Im Batteriefach ist der Abstand zwischen eingelegter Batterie und Batteriefach-Deckel so gro√ü, dass die Batterien ausreichend Platz haben, um sich eigenst√§ndig aus der Halterung zu l√∂sen, wodurch die Spannungsversorgung unterbrochen wird, z.B. wenn das Ger√§t auf den Tisch gestellt wird. Hier kann man sich zwar mit einem St√ľck Schaumgummi behelfen, da der Batteriedeckel aber auf- und zu geschoben wird, ist das nicht unbedingt die optimalste L√∂sung.

Bild: IC-Tester
Der Spalt zwischen Batterien und Batteriefachdeckel ist so groß, dass sich die Batterien lösen können.

Der Platz zwischen Batteriefach und Platine ist dagegen so knapp bemessen, dass die Kabel zwangsl√§ufig eingeklemmt werden und fr√ľher oder sp√§ter an diesen Stellen ein Kabelbruch zu erwarten ist.

Bild: IC-Tester
Eingeklemmte Kabel.

F√ľr die L√∂tstellen der Kabel am Batteriefach ist der Platz ebenfalls sehr knapp bemessen.

Das Display liegt direkt auf dem Versorgungskabel und der Hauptplatine auf. Hier sollte man ein St√ľck geeigneten Schaumgummi unterlegen, um Sch√§den vorzubeugen.

Bild: IC-Tester
Die Hauptplatine und die Display-Platine.

Bild: IC-Tester
Die R√ľckseite der Hauptplatine und der Display-Platine.

Das Display ist permanent beleuchtet ohne M√∂glichkeit zum Ein-/Ausschalten, was bei guten Lichtverh√§ltnissen unn√∂tig zu Lasten der Batterie geht. Zu bem√§ngeln ist auch, dass kein mechanischer EIN-/AUS-Schalter verbaut wurde. Ein Netzteilanschluss w√§re zudem w√ľnschenswert.

Positiv ist, dass das Gerät mit zwei herkömmlichen AA-Batterien (Mignon) betrieben wird. Testweise war der Betrieb auch mit vollgeladenen Akkus möglich.

Die Stromaufnahme ist dagegen inakzeptabel. Beim Einschalten und danach betr√§gt sie viel zu hohe 250mA und sinkt erst auf ca. 43mA ab, wenn eine Taste gedr√ľckt wird. W√§hrend des Pr√ľfvorgangs steigt sie nur geringf√ľgig auf akzeptable ca. 50mA an. Im ausgeschalteten Zustand betr√§gt sie immer noch 6¬ĶA, die auf lange Sicht die Batterien unn√∂tig entleeren.

Schade ist auch, dass sich der Hersteller vier Gummi-F√ľ√üe f√ľr einen stabilen Stand gespart hat.

Von der nachlässigen Verabeitung zeugt zuguterletzt noch ein Rechtschreibfehler auf dem Startbildschirm (SEACH statt SEARCH).

Dies sind unn√∂tige M√§ngel, die sich allesamt mit geringf√ľgigem Aufwand ab Werk leicht beheben lie√üen.


Bauteil-Test

√úber 1300 Komponenten, darunter die g√§ngigsten Bauteile, die komplette 74er Serie und die CMOS CD4000er Serie, soll der IC-Tester laut Produktbeschreibung pr√ľfen k√∂nnen.

Eine Bauteil-Liste mit allen implementierten Komponenten findet sich jedoch nicht. Das ist insofern problematisch, weil der IC-Tester im automatischen Erkennungsmodus die Meldung "not found" sowohl bei nicht-implementierten als auch bei defekten Bauteilen ausgibt. Wird die Komponente manuell eingestellt, erscheint bei einem Defekt die Meldung "fault".

Wie das nachfolgende Video mit einem CD4017 veranschaulicht, sind die Testergebnisse beim Pr√ľfen von ICs nicht immer zuverl√§ssig. Will man wissen, ob eine Komponente tats√§chlich defekt oder nur nicht vorgesehen ist, kommt man wohl nicht umhin, einen eigenen Test mithilfe der entsprechenden Schaltung durchzuf√ľhren.



Video-Vorschau: IC-Tester hält nicht, was er verspricht



Bild: IC-Tester
Animierter Schaltplan zum Test-Aufbau im Video.

Der IC-Tester ist leider weit davon entfernt, alle angegebenen IC-Typen zu erkennen und ordnungsgem√§√ü zu pr√ľfen. Hier nur einige Beispiele, die nicht erkannt oder fehlerhaft erkannt wurden: 74F109, 7410, 7442, 7454, 7476, 7485, 74121, 74LS196, 74LS197, 74LS221, 7410, 75188, 74LS90, CD4017, CD4060, NE556 u.v.m.

Es hat ganz den Anschein, als ob es problematisch wird, sobald der innere Aufbau eines ICs √ľber eine reine Gatter-Anordnung (Wahrheitstabelle) hinausgeht.

Teilweise liegt w√§hrend des Pr√ľfvorgangs eine negative Spannung an, die in den Spitzen mit √ľber -2V aus dem Rahmen f√§llt.

Der IC-Tester pr√ľft zudem in begrenztem Umfang Transistoren (NPN, PNP, MOS), Optokoppler, Treiber, Operationsverst√§rker und Zener-Dioden. M√∂glich ist auch das Testen von Silizium-Dioden und Leuchtdioden.

Wie die jeweiligen Bauteile in den Sockel einzusetzen sind, ist der einseitigen Chinesisch-Englischen-Anleitung auf schlechten Abbildungen zu entnehmen. Besser w√§re es, solch wesentliche Informationen auf der R√ľckseite des Ger√§ts abzudrucken, wo sie nicht verloren gehen k√∂nnen. Afug-Info.de hat den folgenden kleinen Aufkleber zum Ausdrucken (Gr√∂√üe: Breite: 58mm, H√∂he 59mm) f√ľr die R√ľckseite des Ger√§ts erstellt.

Bild: IC-Tester Aufkleber
Grafik: Die Sockelbelegung f√ľr Optokoppler, Transistoren und Dioden.

Bei Transistoren zeigt das Ger√§t an, ob es sich um einen NPN, PNP oder MOSFET handelt sowie die Anschl√ľsse als EBC oder GSD. Es erschlie√üt sich daraus jedoch nicht von selbst, welcher Pin des Transistors nun dem Emitter, dem Kollektor und der Basis (bzw. bei MOSFET Gain, Source, Drain) entspricht. Dabei w√§re eine entsprechende Beschriftung ein Leichtes gewesen - sowohl auf dem Display √ľber den Buchstaben sowie als Aufdruck neben dem Sockel.

Bild: IC-Tester
Der IC-Tester pr√ľft einen Transistor.

Verschiedene NPN, PNP, MOSFET und BUZ Transistoren hat der IC-Tester problemlos erkannt, ebenso wie einige Thyristoren wie z.B. MCR8NG. Triacs (BTB6 und andere) wurden dagegen nicht erkannt.

Bei gr√∂√üeren Bauteilen mit kr√§ftigeren Anschlussdr√§hten wird der Sockel unn√∂tig einseitig belastet oder das Einlegen gestaltet sich wegen der Bauform als schwierig oder nicht m√∂glich. Extra Anschl√ľsse hierf√ľr w√§ren w√ľnschenswert.

Während das Einsetzen z.B. eines BC237 (Gehäuseform TO-92) oder eines BD137 (TO-126) noch in Ordnung bzw. gerade noch in Ordnung ist, wird es bei einem BUZ11 (TO-220) schon problematisch und ein 2N3055 (TO-3) ist nicht möglich.

Beim Timer-Baustein NE555 wird nur die einfache Ausf√ľhrung mit 8-Pins erkannt, nicht aber der Dual-Timer NE556 mit 14 Pins, der im Prinzip auch nichts anderes ist als zwei NE555 in einem Geh√§use.

√úberzeugen konnte der IC-Tester eigentlich nur bei Zenerdioden. Hier wird die Herstellervorgabe von bis zu 50V sogar noch √ľbertroffen. Alle Test-ZDs wurden problemlos erkannt. Als Pr√ľfspannung wurden ca. 90V gemessen. Neben Zener-Dioden lassen sich auch LED testen.

Bild: IC-Tester
Der IC-Tester pr√ľft links eine Zener-Diode und rechts eine LED.

Alle stichprobenartig gepr√ľften Optokoppler, Treiber und Operationsverst√§rker wurden ebenfalls einwandfrei erkannt.


Kurz und knapp zusammengefasst

Vorteile:
+ Betrieb mit 2x AA Mignon Batterien
+ Zenerdioden bis 50V und höher können getestet werden
+ pr√ľft begrenzt auch Dioden, LED, Transistoren, Treiber, Optokoppler, Operationsverst√§rker und teils Timer-Bausteine, sofern implementiert

Nachteile:
- die in der Produktbeschreibung genannten IC-Serien werden bei Weitem nicht alle erkannt
- bei ICs sind Erkennung und Pr√ľfergebnis nicht immer zuverl√§ssig (siehe Video)
- Liste mit den implementierten Bauteilen fehlt
- gesonderte Anschl√ľsse f√ľr Bauteile, die nicht die Form von ICs haben, fehlen
- zu hohe Stromaufnahme beim Einschalten, die sich erst auf Tastendruck auf akzeptables Maß verringert
- kein mechanischer Aus-/Einschalter
- kein Netzteilanschluss
- mangelhafte Verarbeitung

Kaufempfehlung:  bedingt


Fazit

Aufgrund zahlreicher Unzul√§nglichkeiten des IC-Testers - insbesondere beim Pr√ľfen von ICs - kann an dieser Stelle keine klare Kaufempfehlung stehen. Wie so oft bei Technik aus China ist das Produkt leider nicht ausgereift. Mangels Konkurrenz (andere Bauteiltester wie der MK-168 k√∂nnen auch nicht √ľberzeugen) ist der IC-Tester als Hilfsmittel f√ľr bestimmte Einsatzzwecke aber dennoch eine √úberlegung wert, wenn man seine Defizite miteinkalkuliert. Das Ger√§t liefert schnelle und brauchbare Ergebnisse bei Dioden, LED und Zener-Dioden. Ebenso in begrenztem Umfang bei Optokopplern, Operationsverst√§rkern, Treibern und Timer-Bausteinen, sofern implementiert. Bei Transistoren wird nur NPN, PNP oder MOS und die Pin-Belegung angezeigt ohne weitere Kennzahlen. Allein hierf√ľr sollte der Gesamtpreis aber maximal 30 Euro nicht √ľberschreiten. Bei ICs mag das Ger√§t unter Umst√§nden f√ľr eine grobe Sortierung hilfreich sein. Wer aber wirklich zuverl√§ssig wissen m√∂chte, ob ein Bauteil funktioniert, sollte es lieber selbst mit einer ad√§quaten Schaltung pr√ľfen. Je nach Anwendungszweck w√§re zum Testen von Logik-Bausteinen und CMOS m√∂glicherweise der Universal Programmer MiniPro TL866A/CS eventuell eine Alternative.

Alle Angaben beziehen sich auf das Testgerät

August 2018


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